牙尖交错颌（intercuspal occlusion，，ICO）是上下颌牙颌面保持最大面积接触时的咬合状态。对于ICO与CRO—位的个体来讲，正畸治疗时需要注意尽可能保持这种重叠关系，只是对CRO时的咬合干扰进行剔除，使CRO达到上述三个条件；而对于ICO与CRO分离的个体，正畸医师应通过矫治方法或选磨等手段尽可能使两种状态重叠。对于伴有颞下颌关节病的患者，正畸结束时使ICO与CRO重叠显得尤为重要，因为已经证实ICO与CRO分离所产生的颌干扰是引发与加剧关节病的重要因素。
（3）使侧向颌处于尖牙保护颌：行使侧向咬合功能时尖牙保护颌状态能最有效地保证神经肌肉协调性且最有成效地保证颞下颌关节的正常受力。因此，尖牙保护颌应是正畸治疗在改变賴状态时的一个重要目标。
（4）使前伸处于后牙脱离、前牙轻触状态：口腔在行使前伸功能时，最自然也是最能协调神经一肌肉一关节功能的颌状态是：①后牙区上下颌牙无任何接触。②前牙区有轻微而均匀的接触，不存在任何早接触。
2、CRO的确定 随着临床正畸治疗标准的提高，很多学者把RCP时的咬合，即CRO作为正畸治疗的微观目标。他们认为正畸治疗真正意义上的完成应建立在当CRO没有早接触或从RCP到ICP（intercuspal contact position，牙尖交错位，即ICO时下颁所处的位置）没有颌干扰的基础上。CRO早接触被认为既是错神造成的结果，又是错颌矫治后复发的重要原因。如果单纯正畸手段不能达到CRO的颌平衡，那么牙体选磨或调颌被认为是可以采取的一种方法。Bell和Okestm认为咬合从RCP到ICP如存在颌干扰，则是引起TMJDS（temporomandibular ioint disorders，颞下颌关节紊乱病）或TMDS（temporomandibular disorders，颞下颌区疾病）的重要原因。对于伴有TMJD或TMD症状的成人正畸患者，尤其应该确定RCP并在此基础上去除CRO的早接触和颌干扰。近年来，确定并记录正畸患者治疗前后的RCP已引起正畸医师的重视。
3、颌架模型的建立 颌架模型（mountedmodels）是不同于常规记存模型的特殊研究模型，它能精确地反映个体口腔的动静态颌状况，主要包括：①ICO和ICP状态。②CRO和RCP状态。③侧向颌、侧向颌位与前伸颌、前伸颌位状态。因此，建立颌架模型是把正畸引向颌学水准的关键步骤。
4、颌架模型的意义 把正确定位后的RCP及CRO精确无误地记录下来，有着重要的临床意义，主要是：①颌架模型能准确反映正畸治疗前后上下颌牙的动静态颌状态，通过它正畸医师能够直观精确地判别与评价患者静止状态下的牙尖交错颌、正中关系颌及运动状态下的侧向颌和前伸颌，使正畸治疗在改善颌面部美观的同时，在颌学水平上改进与修正态下的侧向颌和前伸颌，使正畸治疗在改善颌面部美观的同时，在颌学水平上改进与修正上下颌牙的咬合关系，提高与增强口腔牙颌系统的生理功能。②观察与比较正畸治疗前后CRO的变化，制订治疗计划时考虑是否可用正畸手段去除CRO的早接触及从RCP到ICP间的脸干扰。③对于错颌伴TMJD或TMD的病例，RCP精确记录能保证把治疗目标建立在对CRO时早接触的剔除，及尽量缩短从RCP到ICP的距离等颌学水准上来。④对于单纯用正畸不能解决CRO咬合关系的病例，RCP的颌架记录能使牙体选磨及调颌得以非常精确地进行，达到RCP与ICP的协调。
§§§第三节 X线头影测量分析
（一）X线头影测量的主要应用
1、研究颅面生长发育 X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。Brodie以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。
2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙颌性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系，对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X线头影测量对正常利|人颅面结构进行分析，得出正常耀人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。
3、确定错颌畸形的矫治设计 从X线头影测量分析研究中得出正常颌关系可存在于各种不同的颅面骨傲结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错颌的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。
4、研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化 X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌额P矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
5、外科正畸的诊断和矫治设计 通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颌面畸形患者进行颌面软硬组织的分析，化、方法及所需移动或印除颌骨的数量，得出畸形的主要机制，以确定手术的部同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。
6、下颌功能分析 X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止辑间隙等方面的功能分析，也有用于下颌由息止颌位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。
（二）常用X线头影测量的标志点及平面
1、头影测量标志点 标志点是用来构成一些平面及测量内容的点。理想的标志点应该是易于定位的解剖标志，在生长发育过程中应相对稳定。但并不是常用的标志点均能符合这一要求，不少标志点的确定是由各学者提出的不同测量方法而定，而标志点的可靠性还取决于头颅X线片的质量以及描图者的经验。
头影测量标志点可分为两类：一类是解剖的，这一类标志点是真正代表颅骨的一些解剖结构；另一类是引伸的，这一类标志点是通过头影图上解剖标志点的引伸而得，如两个测量平面+目交的一个标志点。
（1）颅部标志点
蝶鞍点（S.sella）：蝶鞍影像的中心。这是常用的一个颅部标志点，在头颅侧位片上较容易确定。
鼻根点（N.nasion）：鼻额缝的最前点。这是前颅部的标志点，代表面部与颅部的结合处。有些X线片上，此点显示不太清楚，是因为其形态不规则骨缝形成角度之故。
耳点（P.porion）：外耳道之最上点。头影测量上常以定位仪耳塞影像之最上点为代表，称为机械耳点。但也有少数学者使用外耳道影像之最上点来代表，则为解剖耳点。
颅底点（Ba.basion）：枕骨大孔前缘之中点。一般此点较易确定，常作为后颅底的标。
Bolton点：枕骨髁突后切迹的最凹点。
（2）上领标志点
眶点（0.orbitale）：眶下缘之最低点。当患者两侧对称及在完好的定位下，左右眶点才于同一水平，但实际上难以达到。一般X线片上可显示左右两个眶点的影像，故常选用两点之间的点作为眶点，这样可减小其误差。
翼上领裂点（Ptm. Pterygomaxillary 颌ssure）：翼上领裂轮廓之最下点。翼上领裂之前界为上颌窦后壁，后界为蝶骨翼突板之前缘，此标志点提供确定了上颌骨的后界和磨牙的近远中向间隙及位置的标志。
前鼻棘（ANS.Anter iornasal spine）：前鼻棘之尖。前鼻棘点常作为确定腭平面的两标志点之一，但此标志点的清晰与否与X线片的投照条件有关。一般不作近远中长度测量所用。
后鼻棘（PNS.posteriornasalspine）：硬腭后部骨棘之尖。
上齿槽座点（A.subspinale）：前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点。此点仅作为前后向测量所用。
上齿槽缘点（SPr.superiorprosthion）：上齿槽突之最前下点。此点常在上中切牙之牙釉质一牙骨质界处。
上中切牙点（UI.upperincisor）：上中切牙切缘之最前点。一般上中切牙的测量有两种方法，一种是以此点与根尖相连作为中上功牙牙长轴来作为角度测量的一个平面，另一种是测量此点与其他结构间的距离。
（3）下领标志点。
髁顶点（Co.condylion）：髁突的最上点。
关节点（Ar.articulare）：颅底下缘与下领髁突颈后缘之交点。关节点常在髁顶点不易确定时而代替髁顶点。
下颌角点（Go.goio）：下颌角的后下点。可通过下颌支平面和下颌平面交角之分角线与下颌角之相交点来确定。
下齿槽座点（B.supramental）：下齿槽突缘点与须前点间之骨部最凹点。
下齿槽缘点（Idinfmdentale）：下齿槽突之最前上点。此点常在下中切牙之牙釉质一牙骨。
下切牙点（Li.10werincisor）：下中切牙切缘之最前点。
颏前点（Po.pogonion）：颏部之最突点。
Li.下切牙点；Id.下齿槽缘点；B.下齿槽座点；Po.颏前点；Cn.颏顶点；Me.颏下点；D.下颌联合中心点；Co.下颌角点；Af关节点；Co.髁顶点；MP.下颌平面颏下点（Me.menton）：颏部之最下点。
颏顶点（Gn.gnathion）：颏前点与颏下点之中点。
D点：下颌体骨性联合部之中心点。这些标志点中，有些是在正中矢状面上，是单个的点。如鼻根点、蝶鞍点等。而有些则是双侧的点，如下领角点，关节点等。若由于面部不对称而使两侧之点不重叠时，则取二点间的中点作为校正的位置。
（4）软组织侧面标志点。
额点（G.glbella）：额部之最前点。
软组织鼻根点（Ns.nasionofso颌tissue）：软组织侦彳面上相应的鼻根点。
眼点（E.eye）：睑裂之目此点。
鼻下点（Sn.subnasale）：鼻小柱与上唇之连接点。
唇缘点（UL’）：上唇粘膜与皮肤之连接点。
下唇缘点（LL’）：下唇粘膜与皮肤之连接点。
上唇突点（UL）：上唇之最突点。
下唇突点（LL）：下唇之最突点。
软组织之颏前点（Pos.pogonionofso颌tissue）：软组织颏之最前点。
软组织颏下点（Mes.Mentonofso颌tissue）：软组织颏之最下点。
咽点（K）：软组织颈部与咽部之连接点。
2、头影测量平面
（1）基准平面：是在头影测量中作为相对稳定的平面。由此平面与各测量标志点及其他测量平面间构成角度、线距、比例等8个测量项目。目前最常用的基准平面为前颅底平面、眼耳平面和Bolton平面。
前颅底平面（SNSNplane）：由蝶鞍点与鼻根点之连线组成，在颅部的矢状平面上，代表前颅底的前后范围。由于这一平面在生长发育上具有相对的稳定性，因而常作为面部结构对颅底关系的定位平面。
眼耳平面（FH.Frankforthorizontalplane）：由耳点与眶点连线组成。大部分个体在正常头位时，眼耳平面与地面平行。
Bolton平面：由Bolton点与鼻根点连接线组成。此平面多用作重叠头影图的基准平面。
（2）测量平面。
腭平面（ANS-PNS.Paltal plane）：后鼻棘与前鼻棘的连线。全颅底平面（Ba-N）：颅底点与鼻根点之连线。
颌平面（OP.occlusal plane）：颌平面一般有两种确定方法。一种是以第一恒磨牙的咬合中点与上下中切牙间的中点（覆颌或开颌的1/2处）的连线。另一种是自然的或称功能的颌平面，由均分后牙颌接触点而得，常使用第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙的颌接触点，这种方法形成的颌平面不使用切牙的任何标志点。
下合页平面（MP.Mandibularplane）：下领平面的确定方法有3种：
A、通过颏下点与下颌角下缘相切的线。
B、下颌下缘最低部的切线。